L'Agenzia Spaziale Italiana annuncia che è stato possibile studiare regioni piccole come il Sistema Solare ed estese quanto la Via Lattea
Svelati nuovi misteri sui buchi neri super massicci e galassie grazie alle “super lenti italiane” installate a bordo del satellite Ixpe. L’Agenzia Spaziale Italiana ha annunciato che “grazie ai polarimetri operanti nei raggi X a bordo del satellite Ixpe forniti dall’Italia è stato infatti possibile studiare sia regioni piccole come il Sistema Solare che estese quanto la Via Lattea” e che il satellite Ixpe-Imaging X-ray Polarimetry Explorer ha osservato a maggio le galassie Mrk 421 e Mcg-05-23-16. I risultati degli studi sulle due galassie sono stati pubblicati sulle riviste The Astrophysical Journal e Monthly Notices of the Royal Astronomical Society.
Osservati buchi neri con una massa 20 volte quella del Sole
Le due galassie osservate ospitano al loro centro buchi neri super massicci con masse di 2 milioni e di 20 milioni di volte la massa del Sole rispettivamente e rappresentano due laboratori astrofisici fondamentali per studiare in luce polarizzata processi di emissione che avvengono su scale spaziali molto diverse. Mrk 421, ad una distanza di circa 430 milioni di anni luce, è uno tra i blazar più vicini alla Terra e più luminoso nei raggi X. La sua gemella più tranquilla, priva di getti relativistici, è MCG-05-23-16 ad una distanza di 120 milioni di anni luce da noi. In questa galassia è possibile lo studio delle regioni più interne del nucleo, fino a qualche centinaio di milioni di chilometri dal buco nero centrale.
Sorgenti già conosciute in passato
Andrea Marinucci, ricercatore Asi e primo autore dell’articolo, ha spiegato che la galassia “Mcg-05-23-16 è una sorgente già conosciuta in passato per aver mostrato una forte interazione tra il suo disco di accrescimento e la corona di elettroni caldi che lo circondano”. Oggi, continua Marinucci, “grazie alle nuove osservazioni simultanee ottenute con Ixpe, Xmm-Newton e NuStar, siamo stati in grado di meglio comprendere la geometria di questo materiale, responsabile della forte emissione X della sorgente”.
